泰勒霍普森白光干涉輪廓儀CCI MP
高分辨率相機(jī)與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細(xì)分析。

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更新時(shí)間：2024-10-15
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產(chǎn)品詳情

泰勒霍普森白光干涉輪廓儀CCI MP

無論對分析速度的要求有多高，我們創(chuàng)新的CCI光學(xué)裝置非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果。高分辨率相機(jī)與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細(xì)分析。

●2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率

●全量程0.1埃的分辨率

●輕松測量反射率為0.3% - 100%的各種表面

●RMS重復(fù)精度<0.2埃，階躍高度重復(fù)精度<0.1%

●多語言版本的64位控制和分析軟件

泰勒霍普森白光干涉輪廓儀CCI MP

良好的光學(xué)干涉測量技術(shù)
• 非壓電陶瓷閉環(huán)Z軸掃描控制，2.2毫米掃描范圍
• 改進(jìn)后的拼接功能，使Z軸量程可達(dá)100毫米
• 1024 x 1024像素陣列可獲得高分辨率的大視場
• 增強(qiáng)了角度靈敏度，能夠得到更好的測量數(shù)據(jù)

從實(shí)質(zhì)上消除測量的不確定性
• RMS重復(fù)性小于0.2埃，臺階高度重復(fù)性小于0.1%
• 整個(gè)測量量程有著0.1埃分辨率
• FEA優(yōu)化機(jī)械設(shè)計(jì)，具備出色的R&R能力
• 采用ISO標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)，確保結(jié)果的可信度

追求長期成本效益的堅(jiān)固耐用設(shè)計(jì)
• 非壓電Z軸掃描控制可省去昂貴的維修費(fèi)用
• 自動(dòng)表面檢測可防止撞壞鏡頭
• 內(nèi)置自我診斷工具可快速、輕松地排除故障
• 操作的簡便性可減少使用者出錯(cuò)可能

64位控制和分析軟件
• 包括中文、日文在內(nèi)的多語種支持
• 兼容大多數(shù)計(jì)算機(jī)平臺，有利于開展合作性研究項(xiàng)目
• 提供多種新工具，包括3D表面隨時(shí)間演變過程中進(jìn)行4D分析
• 根據(jù)多批次測量數(shù)據(jù)自動(dòng)生成報(bào)告

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